每一种粒度测量方法都是测量不同基准下颗粒的某一物理特性，可以根据多种不同的方法得到不同的平均结果(如个数基准下D[4,3]，D[3,2] 等)，但是究竟该用哪种平均径呢?举一个简单的例子，两个直径分别为1和10的球体，对冶金行业，如果计算简单的个数平均直径，得到的结果是：D[1,0]=(1+10)/2=5.5。但是如果感兴趣的是物质的质量，而质量是直径的三次函数，这样，直径为1的球体的质量为1，直径为10的球体的质量为1000。也就是说，大球体占系统总质量的99.9%。在冶金上即使舍去粒径为1的球体，也只会损失总质量的0.1%。因此，简单的个数平均不能精确反映系统的质量，而用D[4,3]能更好地反映颗粒的平均质量。
在上述球体的两个例子中，质量矩的体积平均直径计算如下:
这个值可以充分代表系统的好坏，对于某些行业来说非常重要。但对于制造大规模集成电路的洁净室来说，颗粒的数量或浓度是最重要的，因为如果有一个颗粒落在硅片上，就会出现缺陷，产品可能报废。这时候就需要采用一种可以直接测量颗粒数量或浓度的方法。对于颗粒计数，记录颗粒的数量就足够了。在这种情况下，粒子的大小无关紧要。
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