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高性能激光颗粒物传感器助力机房环境监测

高性能激光颗粒物传感器助力机房环境监测

  计算机设备中,使用了大批的半导体器件、电阻器、电容器等。在计算机加电工作时,环境温度的升高都会对它们的正常工作造成影响。为了确保计算机安全可靠地运行,严格控制温度之外,还要把湿度控制在规定的范围之内。因此机房监测一般包含对机房的温湿度、漏水、火情、偷盗、电源、UPS、视频等监测。下面工采网小编就来说说颗粒污染物对机房环境的危害及如何检测机房颗粒物?

  颗粒污染物

  1、无论是否带有空气侧节能装置的数据中心,必须达到ISO所规定的8 级洁净度。2、颗粒污染物的潮解相对湿度应超过60%。

  3、数据中心内不得含有锌晶须。

  4、对于没有安装空气侧节能装置的数据中心,只需采用以下过滤方式,应达到ISO 8 级洁净度:

  a.使用 MERV 8过滤器不断过滤室内空气。

  b.使用 MERV 11 过滤器,MERV 13 更佳,用于过滤进入数据中心的外部空气。

  对于配有空气侧节能装置的数据中心,为达到 ISO 8 级洁净度,应根据数据中心的特定情况来选择过滤器。通常,使用MERV 11 过滤器,MERV 13 更佳,用于过滤进入数据中心的外部空气。

  颗粒污染物的潮解相对湿度应超过60%

  在数据机房内,当落在工艺设备内部印刷线路板上的粉尘吸收足够的水分变湿,从而导致腐蚀和/或离子迁移时,此时数据机房内空气的相对湿度,我们称之为颗粒污染物的潮解相对湿度;数据机房内的颗粒物大多数对于IT设备是无害的,但当粉尘的潮解相对湿度低于数据中心的相对湿度时,粉尘就会吸收湿气,从而导致湿尘中的离子污染物降低印刷电路板表面的绝缘阻抗,通过离子迁移导致临近相隔功能部件短路,损害IT设备,甚至导致宕机。

  一方面我们需要控制颗粒物,尽量减少进入机房的粉尘,另一方面,我们需要控制机房内的相对湿度,切断粉尘吸收水分的途径,不要让湿尘产生。将数据中心的相对湿度保持在 60% 以下,这样可以将由停留的微尘而引发的泄漏电流保持在60% 以下,这样可以将由停留的微尘而引发的泄漏电流保持在可接受的次μA 级范围内,避免湿尘产生危害。

  悬浮颗粒对机房设备的影响

  矿物性的固体粉料进入机房,尘土纤维性的尘埃,它具有吸湿性,如附着在电子元器件上,能导致金属材料氧化腐蚀,改变电气参数,还会使电子元器件散热不良,绝缘性能下降。此外,尘埃吸附在电子元件和设备上,严重影响服务器散热,造成短路。温度偏高会导致:电子元器件的性能劣化,降低使用寿命甚至损坏;能改变材料的膨胀系数,如磁盘机、磁带机等精密机械由于受热胀的影响,往往会出现故障;会加速绝缘材料老化、变形、脱裂,从而降低绝缘性能,并促使热塑性绝缘材料和润滑油脂软化而引起故障;当温度偏高超过电子元件温升允许值时,会导致电子元件芯片烧毁。

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