嵌布矿物粒度的测定

1、矿物嵌布粒度的概念

矿物的嵌布粒度可分为结晶粒度和工艺粒度:

晶粒度是指单个晶体颗粒的大小，主要用于遗传学研究。

过程颗粒尺寸指的是一种矿物的集料颗粒和单个颗粒的尺寸；

矿物的嵌布粒度特征是指矿物工艺粒度的大小和分布特征。

2.矿物加工粒度的表征

通常有两种方法来表征矿样或矿块中粒状或非粒状(不规则)颗粒的工艺粒度，即定向最大截距法和定向随机截距法。

(1)方向的最大截距

所谓& ldquo最大方向截距& rdquo，指沿某一方向测量的颗粒最大直径。本方法适用于测定粒状矿物颗粒或骨料的粒度。

(2)定向随机拦截

对于非粒状矿物颗粒或骨料，如果脉冲宽度均匀变化，测量其宽度作为颗粒尺寸。如果是片状矿物(如石墨、白云母、滑石等。)，测量其解理面上的长轴作为粒度进行分级。对于超长的纤维状矿物(如石棉)，纤维长度一般以粒度来衡量分级。

如果矿物颗粒不规则，通常用& ldquo定向随机截距& rdquo用等间距定向测线的长度来表示其粒径，即定向随机截距d1、d2、d3、d4、d5、d6等。

由于抛光后的切片大部分没有通过颗粒中心，所以测得的颗粒尺寸总是比实际的小。进行粒度测量时，应确保足够数量的被测颗粒。如果测量的粒子数量很少，使用& ldquo最大方向截距& rdquo或者& ldquo定向随机截距& rdquo测量矿物的工艺粒度不能反映其实际粒度。

3.显微镜下拉伸长度的测量。

通常目镜测微计用于测量显微镜下的粒子长度。在目镜的前焦面上，安装了一块刻有100分刻度、长度为1nm的小圆玻璃，这就是目镜测微计。在目镜和物镜的一定组合下，在载物台上放置一个载物台千分尺(通常在2mm的长度上刻200个格，每个格的长度为0.01mm)，就可以计算出这种目镜和物镜组合下的目镜千分尺的格值。

目镜测微计与载物台测微计的准焦点重合后，目镜测微计的80等分正好等于载物台测微计的56等分，目镜测微计的等分如下:

目镜测微计的网格值=(载物台测微计的网格数×倍；0.01毫米)/(目镜的微米刻度数)=(56×100毫米；0.01毫米)/80 = 0.007毫米

必须注意的是，目镜测微计的单元值随着目镜和物镜的组合而变化。实际长度只需根据所测矿物粒度的微米格数乘以目镜-物镜组合的格值即可算出。如果网格值为0.007毫米，目镜测微计测量9个网格，则颗粒尺寸长度为9×100毫米；0.007毫米= 0.063毫米.

4.显微镜下矿物工艺粒度的测量。

在选择有代表性的原矿样品进行测量时，如果粒度范围较窄或待测矿物含量较大，可测量少量的轻切片。如果粒度范围较宽，且粒度差异很大，在矿石中分布不均匀，就需要选取和测量大量的光膜。制片时，必须向层理、片理、片麻岩、条带状方向垂直研磨。

为了增强样品的代表性，减少取样误差，减少测量工作量，一般将待测的代表性矿石样品粉碎至3mm左右，分成较小的部分，然后用胶结剂(虫胶、酚醛模塑料、环氧树脂和三乙醇胺、松香和松节油、赛璐路等)胶结。)，最后研磨成块(砂)状光滑片，用于工艺粒度测量或矿物百分比测量。对于松散的矿石或松散的矿产品，也要磨成块状(砂状)进行计量。

在粒度测量中，必须人为划分粒度分布的某些区间& mdash& mdash粒度，以便进行粒度测量。当在显微镜下测量过程颗粒尺寸时，颗粒尺寸可以根据目镜测微计的网格数来划分(如2、4、8、16、32...).在选择放大倍数，即目镜和物镜的组合时，一般宜保证最小颗粒的放大物像尺寸不小于目镜测微计的两个刻度，最大颗粒的放大物像尺寸不超过目镜测微计的刻度范围。

微观粒度测量方法主要包括面测量、线测量和点测量。

(1)表面测量方法

表面测量又称水平尺表面测量，适用于颗粒状颗粒的测量。这种方法是通过目镜测微计、机械表和分类计数器(如果没有分类计数器，可以用笔记录)的配合来进行的。将目镜测微计由东向西水平放置在视场内，用机械台的移动尺将胶片向南北方向的测量线移动一定距离，使A线和B线范围内的粒子逐渐通过测微计。

当每个粒子通过千分尺时，根据粒子的& ldquo方向(东西)的最大截距& rdquo尺度数决定了它属于哪一个粒子类，即被认为是粒子类的粒子；并按下分级计数器的相应按钮，记录颗粒等级，从而累积一个颗粒的颗粒等级。这样依次通过千分尺的粒子被记录下来，然后再测量另一条相邻的垂直线。为了避免过测量指定范围边界上的粒子而造成的人为误差，可以规定只测量左竖A线上和ab线之间的粒子，而不测量右竖A线上的粒子。

该方法及以下方法一般对粒径相近的试件测量500粒左右，即粒径分布范围较窄时；如果颗粒大小差异很大，即颗粒大小分布范围很宽，则必须增加测量颗粒的数量，以确保必要的准确度。逐步试验算法也可用于具体确定要测量的粒子数。

(2)线路测量方法

线测量包括水平线测量和水平线测量。

水平线测量法是在一定距离上测量测量线上遇到的颗粒状颗粒(最好距离大一点，避免重测粗颗粒)。测量方法是将目镜测微计水平放置，即垂直于测量线，借助目镜测微计对通过十字丝中心的颗粒进行垂直测量线方向& ldquo最大方向截距& rdquo测量，并使用分类计数器记录每个级别测量的颗粒数量。逐一测量期望的测量线和粒子数后，进行排序计算。

因为这种方法是沿测线测量的，所以容易漏掉粒径较小的颗粒。因此，与水平尺面测量法相比，粗粒度较高，细粒度较低。

直线测量法适用于非颗粒状不规则颗粒。测量方法也用于测量一定距离分布的测量线上的颗粒，但由于颗粒形状不规则，无法测量& ldquo最大方向截距& rdquo，但只能测量与测量线的平行交点& ldquo定向随机截距& rdquo。

目镜测微计平行于测量线的方向放置，测微计切割的部分被测量并记录下来& ldquo定向随机截距& rdquo。以随机截距为粒径，不同粒径记录不同的随机截距。计算每次随机截取的粒子数。测量完预估的测线和截距数后，整理计算，计算出各粒径的体积或质量百分比。

(3)现场测量法

这种方法主要适用于粒状颗粒。伍德系统是在目镜测微计(水平放置在垂直于勘测线的方向)和电点计数器(电正交表)的帮助下进行的，电点计数器用于测量测量点上每种粒度的矿物点的数量，测量点通过沿勘测线的十字交叉等间隔分布。

测量落入十字准线交点的待测有用矿石的粒度时(从水平目镜测微计测量垂直测线方向的最大截距)，按下粒度计数按钮，记下粒度的一个点；如果跳了一定距离后还是在这个较大的颗粒里，再按下这个颗粒大小的计数键，然后记下一个点；如果跳进另一个粒子，按下另一个粒子的计数键，记下另一个粒子的一个点；如果跳到其他伴生矿或者脉石矿，按& ldquo空白色& rdquo按钮使其向前跳跃，但不计数。直到待测量的测试线、点数或光学片完成。

如果是非颗粒状的颗粒，可以在十字线交点处垂直于测量线的方向进行测量& ldquo横向随机截距& rdquo以其粒度计算。

单体解离度的测定

1、单体离解度的概念

为了通过选矿富集有用矿物，必须首先从矿石中分离有用矿物。因此，矿物的解离性极大地影响了矿石的可选性。

矿石破碎后，一些矿物以单矿物颗粒的形式从矿石的其他组成矿物中分离出来，这种颗粒称为& ldquo一种矿物单体& rdquo。由两种或两种以上矿物连接的粒子称为& ldquoa-矿物伴生& rdquo。

矿物的解离性主要表现在矿石破碎后形成的单体的相对量，通常用& ldquo单体解离度& rdquo表示矿物的分解程度。

矿物单体解离度是指样品中某一矿物单体的含量与该矿物总量(单体含量和伴生体含量之和)的比值。即:

矿物单体解离度=(矿物单体含量/总矿物含量)&倍；100%

显然，矿物单体的解离度越高，其解离性越好。相反，矿物单体解离度越低，其解离性越差。在碎磨过程中，只有充分分离有用矿物，才能提高有用矿物回收率和精矿质量。

因此，在流程产品分析中，通常需要了解主要产品中矿物的单体解离程度，以便检查破碎、磨矿、分离的效果，找出进一步提高选矿指标的措施。

2.矿物单体解离度的测定

矿物解离度的测量通常在光学显微镜下进行。而且为了便于在显微镜下观察和测量，通常需要对样品进行分级，并准备砂纸片进行观察。

首先，将样品过筛或脱水，分成几份，干燥并称重，然后进行单一元素的化学分析。然后将不同粒径的样品研磨成砂片或砂片，在显微镜下测量单体和连体，确定各粒径的单体解离度。

单体解离度可通过上述水平尺线测量或水平尺面测量测量单体和连体的数量，然后通过线测量或面测量计算样品中矿物单体和连体的体积含量，再根据单体体积与总体积的比值(单体体积+连体体积)计算样品中矿物的单体解离度。

为了定量描述共生体中有用矿物质的含量，通常根据有用矿物质在整个共生体中的体积比(面积比)将共生体进一步分为不同的类型。例如，分别为3/4、2/4和1/4的伴生颗粒表明，伴生颗粒中有用矿物的体积比分别为3/4、2/4和1/4。有时，合生颗粒还可进一步细分为7/8、6/8(3/4)、5/8、4/8(1/2)、3/8、2/8(1/4)、1/8等类型。

在测量出各粒径矿物的单体解离度后，就可以根据各粒径的产率和解离度计算出整个样品的单体解离度。