矿质元素的测定方法(电子探针技术在矿物学中的应用) 矿物成分的测定 电子探针:& nbsp；& nbspx射线显微分析仪，简称电子探针 它利用聚焦电子束激发特征X射线，其内径为0。N ~ N微米，然后根据X射线光谱的分析，可以测定微区样品中元素的定性和定量组成。 可测量的范围是从铍(Be4)到铀(U92) 该仪器的相对灵敏度较差，一般为0.01 ~ 0.05%。 但由于分析微区含量，如果计算绝对灵敏度，只能检测10-3 ~ 10-14克元素，所以灵敏度相当高。 最常用的物理信息有:特征X射线、二次电子、背散射电子、吸收电子等。 通过观察和测量这些信息，可以获得矿物微区的成分、含量、分布、赋存状态、晶体形态、粒度、矿物形貌和结构。 目前常用的方法有光谱分析和能谱分析，现代新型电子探针有两种方法。 光谱分析具有良好的光谱分辨率、峰背比和高分辨率。 但不足之处是X射线利用率低，分析速度慢，需要半个小时左右才能对元素进行全面分析。 能谱分析灵敏度高，可以同时检测多种元素，分析速度快。一般可在2 ~ 3分钟内得到原子序数表中钠以上元素的定性和定点定量分析结果，所有有用数据均可存储或记录。 其缺点是分辨率远低于光谱方法，因此精确定量分析和超轻元素分析一般需要光谱分析。 上述任何一种方法都可以在最终的显像管上显示出来，或者用X-Y记录器和电传打字机记录下来。 & nbsp& nbsp& nbsp& nbsp电子探针像的观察:在观察背散射电子像和吸收电子像时，元素根据原子序数形成对比。在背散射电子图像中，原子序数小的元素较暗，而原子序数大的元素较亮。 利用这一特征，可以大致判断样品中不同元素或矿物的分布状态。 而吸收电子像的暗区或亮区与背散射电子像完全相反。 【下一篇】& nbsp& nbsp& nbsp特征X射线图像可以清楚地显示一种元素在微区的分布，通常通过以下三种方式进行测量:& nbsp& nbsp& nbsp(1)点分析:将电子束固定在待分析的点上，然后改变晶体与探测器的相对位置，使点中的元素得到定性和定量分析。 & nbsp& nbsp& nbsp& nbsp(2)线分析:将X射线光谱仪固定在待测元素的位置，使电子束沿指定方向扫描，使某一元素在指定直线上的分布状态记录在屏幕或记录仪上，称为浓度分布曲线。 & nbsp& nbsp& nbsp& nbsp(3)表面扫描:将X射线光谱仪固定在待测元素的微观区域，用电子束在样品表面扫描，得到元素的表面分布。白点密集的区域是该元素含量最高的区域，通过改变光谱仪的位置可以得到不同元素的表面分布。 & nbsp& nbsp& nbsp& nbsp电子探针的送样要求一般导电性好，比如非导体的话就要喷涂在表面。 一般抛光盘的直径为10 ~ 20mm，应根据电法勘探样品架的规格来确定。样品的表面应抛光平整。 应将样品从盖玻片上取下，用酒精清洗树脂，然后喷涂碳膜(或金膜)。 重砂或矿物加工品应在长10mm、直径8 ~ 10mm的铜管(或铝管)中镶嵌酚醛模塑料或其导电胶，各种磨光板的样品应在镜下用钻石笔标记，以免浪费时间寻找测试位置。 样品必须具有代表性。在这种情况下，应附上已做的取样情况、矿物共生组合、成因产状、化学分析等化验资料，以供研究时参考，并提出需要解决的问题，以便选择合适的资料和手段。 免责声明：本网部分内容来自互联网媒体、机构或其他网站的信息转载以及网友自行发布，并不意味着赞同其观点或证实其内容的真实性。本网所有信息仅供参考，不做交易和服务的根据。本网内容如有侵权或其它问题请及时告之，本网将及时修改或删除。凡以任何方式登录本网站或直接、间接使用本网站资料者，视为自愿接受本网站声明的约束。
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