当X光穿过存在微观不均匀区(如超微颗粒、微孔、杂质、位错、空穴等散射体)的介质时，将发生散射现象，由于散射体大小比X光波长大的多，散射的角域很小(±2°左右)，故称X光小角散射。
对于单个球形粒子，散射强度
I = I0m2 & Phi2(韩国)
在…之中
m:一个粒子中的电子数与周围同体积介质中的电子数之差可以写成m = & rhoeV(R)，& rhoe是粒子与其周围介质之间的电子密度差。
& Phi(KR):球形粒子的散射函数φ；(KR)=(sinKR-KRcosKR)，K = 4 & pisin &θ；/& lambda；，& lambda是入射x射线的波长，sinθ；≔，ε；是散射角。
因此，散射强度可以写成I = I0V(R)R3φ；2(韩国).
对于多分散颗粒系统，设粒度分布函数为W(R)，则
I(Kj)= i=1，2，& hellip。n
在公式中，系数aji=C，C，C为常数，因此可以由实验检测得到的不同散射角的散射强度计算出粒径分布。
引进x射线小角散射仪，其粒度测试范围为0.003μ；m ~ 0.5 & mum .该方法应注意两点:1 .像激光粒度分析仪，存在复杂的散射问题；2.因为X射线散射与粒子中的电子数有关，当粒子表面被氧化(如金属粒子)或表面吸水(如氧化物等)时。)，电子数会发生变化，计算需要修正。
