常用的粒度测试方法有筛分法、显微镜(动态/静态图象)法、沉降法、光阻法、电阻法、激光法、电子显微镜法、透气法、动态光散射法、X射线小角散射法等。

1)筛选方法:优点:简单、直观、设备成本低，常用于大于40 & mum样本。缺点:结果受人为因素和网格变形影响较大。

2)显微镜(图像)法:优点:简单、直观，可用于形态学分析。适用于分布较窄的样品(最大和最小粒径之比小于10: 1)。缺点:代表性差，分析分布范围广的样品比较麻烦，无法分析小于1 &mu的样品；m样本。

3)沉降法(包括重力沉降和离心沉降):优点:操作简单，仪器可连续运行，价格低廉，准确度和重复性好，测试范围广。缺点:测试时间长，操作复杂。

4)电阻法:优点:操作简单，可测量粒子数，等效概念清晰，速度快，准确度好。缺点:不适合测量小于0.1 & mum，对于粒径分布较宽的样品，更换小孔管比较麻烦。

5)激光法:优点:操作简单，测试速度快，测试范围广，重复性和准确性好，可用于在线测量和干法测量。缺点:结果受分布模型影响大，仪器成本高，分辨率低。

6)电镜法:优点:适用于测试超细颗粒甚至纳米颗粒，分辨率高，可用于形貌和结构分析。缺点:样本少，代表性差，易受人为因素影响，仪器昂贵。

7)光刻胶法:优点:测试方便快捷，可测量液体或气体中的粒子数，分辨率高。缺点:不适用的颗粒尺寸< 1μ；m样品，采样系统比较讲究，只适合对粉尘、污染物或稀释药物进行测量，对一般粉末不太适用。

8)呼吸法:优点:仪器价格低廉，无需分散样品，可测量磁性材料粉末。缺点:只能得到平均粒径值，无法测量粒径分布；不能测量小于5 & mum细粉。

9) X射线小角散射法:用于纳米粒子的粒径测量。

10)光子相关光谱(动态光散射法):用于测量纳米粒子的粒径。